太赫茲探測也是太赫茲技術中的另一項關鍵技術，是太赫茲技術投入到實際應用的另一關鍵環(huán)節(jié)。由于目前太赫茲輻射源的功率普遍都比較低，因此發(fā)展高靈敏度、高信噪比的太赫茲探測技術尤為重要。太赫茲的探測方法比較多，對于脈沖太赫茲的探測目前已經(jīng)廣泛使用的方法有光電導天線探測和電光采樣兩種方式。本文主要歸類整理對于連續(xù)波太赫茲的探測方法，主要有測輻射熱計（bolometer）太赫茲探測器，高萊盒探測器，太赫茲光聲探測器，熱釋電探測器，熱電探測器，亞太赫茲超快探測器。這些探測器性能各有不同，可應用于不同環(huán)境。科研實驗研究中往往需要根據(jù)自己的太赫茲源選擇合適的太赫茲探測器。

主要探測器性能對比

>> 高萊盒太赫茲探測器 Golay Cell

     用高萊盒探測器（Golay Cell）探測太赫茲輻射。其原理是：當太赫茲輻射通過接受窗口照射到吸收薄膜上時，吸收薄膜將能量傳遞給與之相連的氣室，使氣體溫度和氣壓升高，以此驅(qū)動與氣室相連的反射鏡膨脹偏轉(zhuǎn)，通過光學方法檢測反射鏡移動量，能間接地測量太赫茲的輻射量。

>> 熱釋電太赫茲探測器/太赫茲功率計

      熱釋電太赫茲探測器/太赫茲功率計是利用利用熱釋電材料的自發(fā)極化強度隨溫度而變化的效應制成的一種熱敏型紅外探測器。熱釋電材料是一種具有自發(fā)極化的電介質(zhì)，它的自發(fā)極化強度隨溫度變化。如果把熱釋電材料做成表面垂直于極化方向的平行薄片，當紅外太赫茲輻射入射到薄膜表面時，薄片因吸收輻射而發(fā)生溫度變化，引起極化強度的變化。而中和電荷由于材料的電阻率跟不上這一變化，其結(jié)果是薄片的兩表面之間出現(xiàn)瞬態(tài)電壓，若有外電阻跨接在兩表面之間，電荷就通過外電路形成電流，電流的大小與熱釋電系數(shù)成正比，還與薄膜的溫度變化成正比，可用來測量THz輻射的強度。

>> 一種可用于真空腔中的熱釋電太赫茲探測器

      上海屹持光電推出的SPY-01太赫茲探測器是一個可以放置于真空腔中，非常緊湊的熱釋電探測器。用于探測從紫外到太赫茲波段的微弱電磁波輻射。真空腔太赫茲探測器都裝配有外部供電電源。

>> 太赫茲超快探測器

      TeraSense的太赫茲探測技術受惠于等離子體激元領域的長期基礎研究。超快太赫茲探測器可以以150ps的響應速度探測太赫茲超短脈沖的瞬態(tài)時域譜型。探測波譜范圍0.05-0.7THz。等效噪聲功率在1nW量級。

>> 測輻射熱計bolometer太赫茲探測器

     測輻射熱計bolometer太赫茲探測器是一種非相干太赫茲探測器，它只記錄所探測的輻射功率大小。其原理是用一根電阻將溫度為T0的吸收體連接起來，然后對吸收體施加偏置功率為Pb的電場，這是如果吸收體收到輻射功率為Ps的太赫茲輻射信號，吸收體的溫度會高于熱源的溫度。如果保持偏置功率Pb不變，電阻溫度會發(fā)生相應變化，由此可以通過測電阻來測量輻射功率。

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